霍尔效应测试仪-科教一体

产品介绍

霍尔效应测试系统 HET-3L是依据范德堡法测量材料的电运输性能参数：载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或薄层材料均可测量，可应用于所有半导体材料，包括 Si、ZnO、SiGe、SiC，GaAs，InGaAs，InP，GaN（N型&P型均可测量）, 广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。

产品特点

采用精密恒流源和电压表，确保仪器测试的良好准确度和高稳定性，性能优越；

测试参数与科研设备一致，功能齐全，极具性价比；

可对非标准样品测试，装夹方便，同时满足教学和科研需求；

创新实验设备，可作为大学物理基础实验的对比与补充；

自带软件，针对国人使用优化，测试过程更加方便；
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应用功能

载流子类型鉴定：通过测量霍尔系数，可以确定电流携带者的类型，是正电荷的空穴还是负电荷的电子，从而获得半导体或导体的电子结构和能带特性；

载流子浓度测量：霍尔系数与载流子浓度之间存在关系，因此通过测量霍尔系数，可以估计材料中载流子的浓度；

迁移率评估：霍尔系数还可以用来计算载流子的迁移率，即电荷载流子在材料中移动的能力，从而对材料的电导率和电子迁移性等方面的深入研究；

材料电性能评估：通过了解材料的电子结构、载流子类型、浓度和迁移率等信息，可以更全面地评估材料的电性能，为电子器件和电路设计提供重要参考；
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技术参数

应用案例（部分）