热电参数测试系统-科教一体
无损检测薄膜材料Seebeck系数和电阻率，采用微伏级别电压表，获得的测试参数更加精确
产品详情
产品介绍
薄膜热电参数测试系统，是专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量。
热电材料是一种新型的优质的功能材料，具有体积小、重量轻、无任何机械噪音、不造成任何环境污染等众多优点，常用来制备发电系统或制冷系统。为了进一步提高热电材料的转化效率（热电优值），对其研究从块体慢慢转移到薄膜材料。
产品特点
热电参数测试仪专门针对薄膜材料的 Seebeck 系数和电阻率测量；
采用动态法测量Seebeck系数，避免了静态测量在温差测量上的系统误差，测量更准确；
采用四线法测量电阻率，测量更加稳定可靠；
采用微伏级别电压表，获得的测试参数更加精确；
可针对客户实际测试需求提供样品载台及腔室的定制化服务；
卡箍设计，方便进行样品更换，提高效率；
友好的软件系统，自动进行测试，并保存数据；
……
技术参数
| 参数 | 数值 |
|---|---|
| 工作温度 | 环境温度：100K-600K |
| 相对误差精度 | 塞贝克系数≤10%，电阻率≤10% |
| 测量精度 | 塞贝克系数:0.1μV/K，电阻率:1μΩ•m |
| 测量范围 | 塞贝克系数:|S|≥10μV/K 电阻率:1μΩ•m~106μΩ•m |
| 温控精度 | ±0.1K（样品温度，稳定后） |
| 最大升温速率 | 20K/min |
| 样品尺寸 | 长：10mm~18mm；宽：2mm~7mm 厚度：50nm~2mm(不含衬底) |
| 真空度 | 50Pa |
应用案例（部分）
中科嘉维
中科嘉维（苏州）半导体科技有限公司是半导体材料物性测量，技术自主创新的高新技术企业。
