2024年5月23日,吉林大学顺利验收了一台霍尔效应测试系统,这标志着和该校的合作迈上了一个新的台阶。


霍尔效应测试系统基于范德堡法测量材料的电运输性能参数:载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等。该仪器适用于薄膜或薄层半导体材料,包括Si、Zn0、SiGe、SiC,GaAs,InGas,InP,GaN(N型&P型均可测量),广泛应用于高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。
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