成都电子科技大学定制霍尔效应测试系统成功验收

2024年9月28日，成都电子科技大学定制霍尔效应测试系统成功验收，这标志着和该校的合作迈上了一个新的台阶。

该产品是成都电子科技大学定制设备，应用于手套箱场景测试。

霍尔效应测试系统依据范德堡法则测量材料的电运输性能参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、方阻等，薄膜或薄层材料均可测量，可应用于所有半导体材料，包括Si、Zn0、SiGe、SiC,GaAs，InGaAs，InP，GaN(N型&P型均可测量)。